Er sensitization by a thin Si layer: Interaction-distance dependence

Publikation: Forskning - peer reviewTidsskriftartikel

Vis graf over relationer

OriginalsprogEngelsk
TidsskriftPhysical Review B (Condensed Matter and Materials Physics)
Udgivelsesdato2011
Vol/bind84
Tidsskriftsnummer8
ISSN1098-0121
DOI
StatusUdgivet

ID: 55810334