Reflection Second-Harmonic Microscopy of Individual Semiconductor Microstructures
Publikation: Forskning - peer review › Tidsskriftartikel
| Originalsprog | Engelsk |
|---|---|
| Tidsskrift | Journal of Applied Physics |
| Udgivelsesdato | 2001 |
| Vol/bind | 90 |
| Tidsskriftsnummer | 12 |
| Sider | 6357-6362 |
| ISSN | 0021-8979 |
| Status | Udgivet |
Emneord
- Second-harmonic generation
ID: 44541