• Skjernvej 4, A, 5-113

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

20022021
Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Fingeraftryk Fingeraftryk er baseret på at anvende teksten fra personernes videnskabelige dokumenter til at skabe et indeks med vægtede ord, som definerer de vigtigste emner fra hver enkelt forsker.

  • 2 Lignende profiler
Metallizing Teknik og materialevidenskab
Degradation Teknik og materialevidenskab
Thermal cycling Teknik og materialevidenskab
degradation Fysik og astronomi
Aluminum Kemiske forbindelser
Aluminum Oxide Kemiske forbindelser
diodes Fysik og astronomi
chips (electronics) Fysik og astronomi

Netværk Klik på punkterne for at se detaljerne.

Projekter 2017 2021

Publikationer 2002 2018

66 Downloads (Pure)

Comparative study of Al metallization degradation in power diodes under passive and active thermal cycling

Brincker, M., Pedersen, K. B., Kristensen, P. K. & Popok, V., 26 okt. 2018, I : IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology. 8, 12, s. 2073-2080 8 s., 8506441.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
Thermal cycling
Metallizing
Degradation
Fatigue of materials
Aluminum Oxide

Low temperature transient liquid phase bonded Cu-Sn-Mo and Cu-Sn-Ag-Mo interconnects: A novel approach for hybrid metal baseplates

Brincker, M., Kristensen, P. K., Söhl, S., Eisele, R. & Popok, V. N., 1 sep. 2018, I : Microelectronics Reliability. 88-90, September 2018, s. 774-778 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

liquid phases
Metals
Liquids
metals
electronic packaging

Optical characterization of SiC films grown on Si(111)

Juluri, R. R., Hansen, J. L., Kristensen, P. K., Julsgaard, B. & Pedersen, K., 2018, I : Applied Physics B. 124, 12, 230.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Structural Characterization of MOVPE Grown AlGaN/GaN for HEMT Formation

Popok, V., Aunsborg, T. S., Godiksen, R. H., Kristensen, P. K., Juluri, R. R., Caban, P. & Pedersen, K., dec. 2018, I : Reviews on Advanced Materials Science. 57, 1, s. 72-81 10 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
Metallorganic vapor phase epitaxy
High electron mobility transistors
high electron mobility transistors
Heterojunctions
Buffers
3 Citationer (Scopus)

Thermo-mechanically induced texture evolution and micro-structural change of aluminum metallization

Brincker, M., Walter, T., Kristensen, P. K. & Popok, V., mar. 2018, I : Journal of Materials Science: Materials in Electronics. 29, 5, s. 3898-3904 7 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Metallizing
Aluminum
chips (electronics)
textures
Textures

Presse/medie

Ph.d.-grad til Peter Kjær Kristensen

Peter Kjær Kristensen

20/02/2009

1 element af mediedækning

Presse/medie

Ph.d. Peter Kjær Kristensen

Peter Kjær Kristensen

02/02/2009

6 elementer af mediedækning

Presse/medie