Projekter pr. år
Fingeraftryk Fingeraftryk er baseret på at anvende teksten fra personernes videnskabelige dokumenter til at skabe et indeks med vægtede ord, som definerer de vigtigste emner fra hver enkelt forsker.
- 2 Lignende profiler
Metallizing
Teknik og materialevidenskab
Degradation
Teknik og materialevidenskab
Thermal cycling
Teknik og materialevidenskab
degradation
Fysik og astronomi
Aluminum
Kemiske forbindelser
Aluminum Oxide
Kemiske forbindelser
diodes
Fysik og astronomi
chips (electronics)
Fysik og astronomi
Netværk
Klik på punkterne for at se detaljerne.
Projekter 2017 2021
- 1 Aktiv
APETT: Advanced Power Electronic Technology and Tools
Blaabjerg, F., Munk-Nielsen, S., Iannuzzo, F., Wang, H., Uhrenfeldt, C., Beczkowski, S. M., Zhou, D., Choi, U., Jørgensen, A. B., Vernica, I., Sangwongwanich, A., Christensen, N., Ceccarelli, L., Nielsen, C. K., Bahman, A. S., Pedersen, K., Pedersen, K. B. & Kristensen, P. K.
01/01/2017 → 30/06/2021
Projekter: Projekt › Forskning
Publikationer 2002 2018
Comparative study of Al metallization degradation in power diodes under passive and active thermal cycling
Brincker, M., Pedersen, K. B., Kristensen, P. K. & Popok, V., 26 okt. 2018, I : IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology. 8, 12, s. 2073-2080 8 s., 8506441.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Åben adgang
Fil
Thermal cycling
Metallizing
Degradation
Fatigue of materials
Aluminum Oxide
Low temperature transient liquid phase bonded Cu-Sn-Mo and Cu-Sn-Ag-Mo interconnects: A novel approach for hybrid metal baseplates
Brincker, M., Kristensen, P. K., Söhl, S., Eisele, R. & Popok, V. N., 1 sep. 2018, I : Microelectronics Reliability. 88-90, September 2018, s. 774-778 5 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel i tidsskrift › Forskning › peer review
liquid phases
Metals
Liquids
metals
electronic packaging
Optical characterization of SiC films grown on Si(111)
Juluri, R. R., Hansen, J. L., Kristensen, P. K., Julsgaard, B. & Pedersen, K., 2018, I : Applied Physics B. 124, 12, 230.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Structural Characterization of MOVPE Grown AlGaN/GaN for HEMT Formation
Popok, V., Aunsborg, T. S., Godiksen, R. H., Kristensen, P. K., Juluri, R. R., Caban, P. & Pedersen, K., dec. 2018, I : Reviews on Advanced Materials Science. 57, 1, s. 72-81 10 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Åben adgang
Fil
Metallorganic vapor phase epitaxy
High electron mobility transistors
high electron mobility transistors
Heterojunctions
Buffers
Thermo-mechanically induced texture evolution and micro-structural change of aluminum metallization
Brincker, M., Walter, T., Kristensen, P. K. & Popok, V., mar. 2018, I : Journal of Materials Science: Materials in Electronics. 29, 5, s. 3898-3904 7 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Metallizing
Aluminum
chips (electronics)
textures
Textures