• Pontoppidanstræde 101, P24

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

  • Kroghstræde 6, 56

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

20132019
Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Fingerprint Fingerprint er automatisk genererede koncepter, som stammer fra personprofilernes indhold. Det opdateres løbende med nye registreringer.

  • 49 Lignende profiler
Temperature measurement Teknik og materialevidenskab
Insulated gate bipolar transistors (IGBT) Teknik og materialevidenskab
Temperature Teknik og materialevidenskab
Condition monitoring Teknik og materialevidenskab
Semiconductor materials Teknik og materialevidenskab
Resistors Teknik og materialevidenskab
Silicon carbide Teknik og materialevidenskab
Electric potential Teknik og materialevidenskab

Netværk Klik på punkterne for at se detaljerne.

Projekter 2018 2019

Condition monitoring
Sensors
Electric potential

Publikationer 2013 2019

Study of Current Density Influence on Bond Wire Degradation Rate in SiC MOSFET Modules

Luo, H., Iannuzzo, F., Baker, N., Blaabjerg, F., Li, W. & He, X., 2019, (Accepteret/In press) I : IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
1 Citation (Scopus)
46 Downloads (Pure)

The Temperature Dependence of the Flatband Voltage in High Power IGBTs

Baker, N. R. & Iannuzzo, F., jul. 2019, I : IEEE Transactions on Industrial Electronics. 66, 7, s. 5581 - 5584 4 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
Insulated gate bipolar transistors (IGBT)
Electric potential
Temperature
Temperature measurement
Power bipolar transistors

Failure protection in power modules with auxiliary-emitter bondwires

Baker, N. & Iannuzzo, F., 1 jan. 2018, I : PCIM Europe Conference Proceedings. 225809, s. 1051-1056 6 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

Resistors
Explosions
Sensors

Impact of Kelvin-Source Resistors on Current Sharing and Failure Detection in Multichip Power Modules

Baker, N., Iannuzzo, F. & Li, H., sep. 2018, Proceedings of the 2018 20th European Conference on Power Electronics and Applications, EPE'18 ECCE Europe. IEEE Press, s. 1-7 7 s. 8515541

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceartikel i proceedingForskningpeer review

Åben adgang
Fil
Resistors
Sensors
Electric current control
Silicon carbide
Semiconductor materials

Junction temperature measurement in a power semiconductor module

Baker, N. R., 17 maj 2018, IPC nr. G01K 7/16 (2006.01), Patentnr. WO/2018/086666, Prioritetsdato 8 nov. 2016

Publikation: PatentForskning

Åben adgang
Temperature measurement
Semiconductor materials
Temperature
Electric current control
Calibration