Projekter pr. år
Fingerprint Fingerprint er automatisk genererede koncepter, som stammer fra personprofilernes indhold. Det opdateres løbende med nye registreringer.
- 39 Lignende profiler
Temperature measurement
Teknik og materialevidenskab
Insulated gate bipolar transistors (IGBT)
Teknik og materialevidenskab
Temperature
Teknik og materialevidenskab
Condition monitoring
Teknik og materialevidenskab
Semiconductor materials
Teknik og materialevidenskab
Silicon carbide
Teknik og materialevidenskab
Electric potential
Teknik og materialevidenskab
temperature measurement
Fysik og astronomi
Netværk
Klik på punkterne for at se detaljerne.
Projekter 2018 2019
- 1 Aktiv
Condition Monitoring Sensor for Extended Power Module Lifetime and Catastrophic Failure Prevention
ECPE Engineering Center for Power Electronics GmbH
01/09/2018 → 31/08/2019
Projekter: Projekt › Forskning
Publikationer 2013 2019
The Temperature Dependence of the Flatband Voltage in High Power IGBTs
Baker, N. R. & Iannuzzo, F., 2019, I : IEEE Transactions on Industrial Electronics. 4 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Åben adgang
Fil
Insulated gate bipolar transistors (IGBT)
Electric potential
Temperature
Temperature measurement
Power bipolar transistors
Impact of Kelvin-Source Resistors on Current Sharing and Failure Detection in Multichip Power Modules
Baker, N., Iannuzzo, F. & Li, H., sep. 2018, Proceedings of the 2018 20th European Conference on Power Electronics and Applications, EPE'18 ECCE Europe. IEEE Press, s. 1-7 7 s. 8515541Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceeding › Konferenceartikel i proceeding › Forskning › peer review
Åben adgang
Fil
Resistors
Sensors
Electric current control
Silicon carbide
Semiconductor materials
Junction temperature measurement in a power semiconductor module
Baker, N. R., 17 maj 2018, IPC nr. G01K 7/16 (2006.01), Patentnr. WO/2018/086666, Prioritetsdato 8 nov. 2016Publikation: Patent › Forskning
Åben adgang
Temperature measurement
Semiconductor materials
Temperature
Electric current control
Calibration
Smart SiC MOSFET accelerated lifetime testing
Baker, N. & Iannuzzo, F., sep. 2018, I : Microelectronics Reliability. 88-90, s. 43-47 5 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel i tidsskrift › Forskning › peer review
field effect transistors
Semiconductor materials
life (durability)
Monitoring
Testing
5
Citationer
(Scopus)
Die degradation effect on aging rate in accelerated cycling tests of SiC power MOSFET modules
Luo, H., Baker, N., Iannuzzo, F. & Blaabjerg, F., sep. 2017, I : Microelectronics Reliability. 76-77, s. 415-419 5 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel i tidsskrift › Forskning › peer review
field effect transistors
modules
Aging of materials
degradation
Degradation