• Pontoppidanstræde 101, P24

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

  • Kroghstræde 6, 56

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

20132019
Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Publikationer 2013 2019

Filter
Konferenceartikel i tidsskrift
2018
3 Downloads (Pure)

Smart SiC MOSFET accelerated lifetime testing

Baker, N. & Iannuzzo, F., sep. 2018, I : Microelectronics Reliability. 88-90, s. 43-47 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

field effect transistors
Semiconductor materials
life (durability)
Monitoring
Testing
2017
5 Citationer (Scopus)

Die degradation effect on aging rate in accelerated cycling tests of SiC power MOSFET modules

Luo, H., Baker, N., Iannuzzo, F. & Blaabjerg, F., sep. 2017, I : Microelectronics Reliability. 76-77, s. 415-419 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

field effect transistors
modules
Aging of materials
degradation
Degradation