• Pontoppidanstræde 101, 2-066

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

19992020

Publikationer pr. år

Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Fingerprint Fingerprint er automatisk genererede koncepter, som stammer fra personprofilernes indhold. Det opdateres løbende med nye registreringer.

  • 13 Lignende profiler

Netværk Klik på punkterne for at se detaljerne.

Projekter

  • Publikationer

    A New Lumped-Charge Modeling Method for Power Semiconductor Devices

    Duan, Y., Iannuzzo, F. & Blaabjerg, F., apr. 2020, I : I E E E Transactions on Power Electronics. 35, 4, s. 3989 - 3996 8 s., 8818346.

    Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

    Åben adgang
    Fil
  • 17 Downloads (Pure)

    Compact Sandwiched Press-Pack SiC Power Module with Low Stray Inductance and Balanced Thermal Stress

    Chang, Y., Luo, H., Iannuzzo, F., Bahman, A. S., Li, W., He, X. & Blaabjerg, F., mar. 2020, I : IEEE Transactions on Power Electronics . 35, 3, s. 2237 - 2241 5 s., 8794576.

    Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

    Åben adgang
    Fil
  • 1 Citationer (Scopus)
    6 Downloads (Pure)

    Design for Reliability of SiC-MOSFET-Based 1500-V PV Inverters with Variable Gate Resistance

    He, J., Sangwongwanich, A., Yang, Y. & Iannuzzo, F., 1 maj 2020, (Accepteret/In press) 2020 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE). (2020 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE)).

    Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceartikel i proceedingForskningpeer review

    Ensuring a Reliable Operation of Two-Level IGBT-Based Power Converters: A Review of Monitoring and Fault-Tolerant Approaches

    Hu, K., Liu, Z., Yang, Y., Iannuzzo, F. & Blaabjerg, F., maj 2020, I : IEEE Access. 8, s. 89988-90022 35 s., 9093024.

    Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

    Åben adgang
    Fil
  • 2 Downloads (Pure)

    Impact of Repetitive Short-Circuit Tests on the Normal Operation of SiC MOSFETs Considering Case Temperature Influence

    Du, H., Reigosa, P. D., Ceccarelli, L. & Iannuzzo, F., 2020, I : IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics. 11 s.

    Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

    Fil
  • 16 Downloads (Pure)

    Priser

    Teacher of the Year

    Iannuzzo, Francesco (Modtager), jun. 2020

    Pris: Undervisningspriser

  • Presse/medier