Projekter pr. år
Fingerprint
Fingerprint er automatisk genererede koncepter, som stammer fra personprofilernes indhold. Det opdateres løbende med nye registreringer.
- 1 Lignende profiler
Netværk
Klik på punkterne for at se detaljerne.
-
Stress tests on electronic power modules to assess reliability
01/05/2022 → 31/07/2023
Projekter: Projekt › Forskning
-
Modeling and Design of Accelerated Reliability Testing for Power Semiconductors
Yu, X., Zhou, D. & Iannuzzo, F.
01/06/2021 → 31/05/2024
Projekter: Projekt › Ph.d.-projekt
-
Failure Mechanism Analysis and Reliability Improvement for Cascode GaN Devices
01/02/2021 → 31/01/2024
Projekter: Projekt › Ph.d.-projekt
-
Condition Monitoring & Remaining Useful Life Estimation for Power Electronic Components
Loghmani Moghaddam Toussi, A., Blaabjerg, F., Bahman, A. S. & Iannuzzo, F.
01/06/2019 → 30/06/2023
Projekter: Projekt › Ph.d.-projekt
-
ELMAC: Electronics Manufactured for Climate
Iannuzzo, F., Blaabjerg, F., Wang, H., Bahman, A. S. & Török, L.
Department of Energy Technology
01/06/2019 → 31/05/2023
Projekter: Projekt › Forskning
Publikationer
-
Aging Investigation of the Latest Standard Dual Power Modules Using Improved Interconnect Technologies by Power Cycling Test
Zhang, Y., Wu, R., Iannuzzo, F. & Wang, H., nov. 2022, I: Microelectronics Reliability. 138, 114740.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Åben adgangFil9 Downloads (Pure) -
Comparative Analysis of Power Semiconductor Thermal Stress in DC and AC Power Cycling
Yu, X., Zhou, D. & Iannuzzo, F., 25 okt. 2022. 6 s.Publikation: Konferencebidrag uden forlag/tidsskrift › Konferenceabstrakt til konference › Forskning › peer review
-
Design for Reliability of SiC-MOSFET-Based 1500-V PV Inverters With Variable Gate Resistance
He, J., Sangwongwanich, A., Yang, Y., Zhang, K. & Iannuzzo, F., 14 jun. 2022, I: I E E E Transactions on Industry Applications. 58, 5, s. 6485-6495 11 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Åben adgangFil86 Downloads (Pure) -
Impact of Solder Degradation on VCE of IGBT Module: Experiments and Modeling
Jia, Y., Huang, Y., Xiao, F., Deng, H., Duan, Y. & Iannuzzo, F., aug. 2022, I: IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics. 10, 4, s. 4536-4545 10 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
10 Citationer (Scopus)413 Downloads (Pure) -
Intelligent DC- and AC Power-Cycling Platform for Power Electronic Components
Zhang, K., Fogsgaard, M. B. & Iannuzzo, F., 19 maj 2022, 2022 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC). IEEE, s. 307-311 5 s. (I E E E Applied Power Electronics Conference and Exposition. Conference Proceedings).Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceeding › Konferenceartikel i proceeding › Forskning › peer review
Åben adgangFil1 Citationer (Scopus)97 Downloads (Pure)
Priser
Presse/medier
-
Nyt testcenter med fokus på effektelektronik
Francesco Iannuzzo & Frede Blaabjerg
04/09/2020
2 elementer af Mediedækning
Presse/medie
-
En stjerneforsker fra den kinesiske flåde så potentiale i dansk forskning
Francesco Iannuzzo & Mogens Rysholt Poulsen
27/07/2020
2 elementer af Mediedækning
Presse/medie
-
Universitet hjalp Kinas flådeekspert
Francesco Iannuzzo & Mogens Rysholt Poulsen
27/07/2020
3 elementer af Mediedækning
Presse/medie
-
Nye små halvledere bliver hurtigere slidt op af varme og stress
03/07/2020
1 element af Mediedækning
Presse/medie
-
Nyt testcenter på Aalborg Universitet skal forbedre fremtidens elektronik
16/06/2020 → 22/06/2020
3 elementer af Mediedækning
Presse/medie