Projekter pr. år
Fingerprint Fingerprint er automatisk genererede koncepter, som stammer fra personprofilernes indhold. Det opdateres løbende med nye registreringer.
- 21 Lignende profiler
Insulated gate bipolar transistors (IGBT)
Teknik og materialevidenskab
Short circuit currents
Teknik og materialevidenskab
Electric potential
Teknik og materialevidenskab
field effect transistors
Fysik og astronomi
Temperature
Teknik og materialevidenskab
short circuits
Fysik og astronomi
Networks (circuits)
Teknik og materialevidenskab
heavy ions
Fysik og astronomi
Netværk
Klik på punkterne for at se detaljerne.
Projekter 2016 2023
- 8 Aktiv
ELMAC: Electronics Manufactured for Climate
Iannuzzo, F., Blaabjerg, F., Wang, H. & Török, L.
Department of Energy Technology
01/06/2019 → 31/05/2023
Projekter: Projekt › Forskning
Electronic equipment
Transfer functions
Industrial electronics
Monitoring
Analog to digital conversion
X-POWER – Power Electronics Reliability Test Facilities
Blaabjerg, F., Iannuzzo, F., Wang, H., Bahman, A. S., Steffensen, B. & Ravn, T. K.
Styrelsen for Forskning og Uddannelse
01/01/2019 → 31/12/2023
Projekter: Projekt › Forskning
Test facilities
Power electronics
Industry
Life cycle
Lead
Inno-SE: Innovationsnetværket Smart Energy 2019-2020
Blaabjerg, F., Iannuzzo, F., Kær, S. K. & Wang, H.
01/12/2018 → 31/12/2020
Projekter: Projekt › Forskning
Electrical and Thermal Characterization of Electronic Power Modules
01/06/2018 → 31/05/2020
Projekter: Projekt › Forskning
Power electronics
Hot Temperature
Online Monitor and lifetime prediction of IGBT modules
Iannuzzo, F. & Reigosa, P. D.
01/12/2017 → 31/01/2020
Projekter: Projekt › Forskning
Insulated gate bipolar transistors (IGBT)
Condition monitoring
Power electronics
Industry
Publikationer 1999 2019
A 3D thermal network model for monitoring imbalanced thermal distribution of press-pack IGBT modules in MMC-HVDC applications
Chang, Y., Li, W., Luo, H., He, X., Iannuzzo, F., Blaabjerg, F. & Lin, W., apr. 2019, I : Energies. 12, 7, 20 s., 1319.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Åben adgang
Fil
Thermal Model
Insulated gate bipolar transistors (IGBT)
Converter
Network Model
Voltage
1
Citation
(Scopus)
63
Downloads
(Pure)
A Lumped-Charge Approach Based Physical SPICE-Model for High Power Soft-Punch Through IGBT
Duan, Y., Xiao, F., Luo, Y. & Iannuzzo, F., mar. 2019, I : IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics. 7, 1, s. 62-70 9 s., 8482289.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Åben adgang
Fil
Insulated gate bipolar transistors (IGBT)
SPICE
Temperature
Physics
Experiments
Comparative study of wire bond degradation under power and mechanical accelerated tests
Popok, V., Buhrkal-Donau, S., Czerny, B., Khatibi, G., Luo, H., Iannuzzo, F. & Pedersen, K., 22 aug. 2019, I : Journal of Materials Science: Materials in Electronics. 30, s. 17040-17045 6 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
wire
Wire
degradation
Degradation
cycles
Impact of Solder Degradation on VCE of IGBT Module: Experiments and Modeling
Jia, Y., Huang, Y., Xiao, F., Deng, H., Duan, Y. & Iannuzzo, F., dec. 2019, I : IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Åben adgang
Fil
Insulated gate bipolar transistors (IGBT)
Soldering alloys
Degradation
Experiments
Heat resistance
Impact of the Case Temperature on the Reliability of SiC MOSFETs Under Repetitive Short Circuit Tests
Du, H., Reigosa, P. D., Iannuzzo, F. & Ceccarelli, L., mar. 2019, Proceedings of 2019 IEEE Annual Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC 2019). IEEE Press, s. 332-337 6 s.Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceeding › Konferenceartikel i proceeding › Forskning › peer review
Åben adgang
Fil
Short circuit currents
Temperature
Bias voltage
Leakage currents
Wire
Presse/medie
International konference sætter fokus på bæredygtig energi
03/10/2018
2 elementer af Mediedækning
Presse/medie
Danmark på pålidelighedslandkortet i 2018
Frede Blaabjerg & Francesco Iannuzzo
04/05/2018
1 element af Mediedækning
Presse/medie