• Pontoppidanstræde 101, 72

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

20162021
Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Personlig profil

Uddannelse (Akademiske kvalifikationer)

Electrical Engineering, MSc, University of Cassino and Southern Lazio

20102015

Fingerprint Fingerprint er automatisk genererede koncepter, som stammer fra personprofilernes indhold. Det opdateres løbende med nye registreringer.

  • 10 Lignende profiler
Short circuit currents Teknik og materialevidenskab
short circuits Fysik og astronomi
field effect transistors Fysik og astronomi
Leakage currents Teknik og materialevidenskab
Power electronics Teknik og materialevidenskab
Degradation Teknik og materialevidenskab
degradation Fysik og astronomi
Temperature Teknik og materialevidenskab

Netværk Klik på punkterne for at se detaljerne.

Projekter 2017 2021

Power electronics
Variable speed drives
Electronics industry
Testing
Product design

Publikationer 2016 2019

  • 8 Konferenceartikel i proceeding
  • 5 Konferenceartikel i tidsskrift
  • 1 Bidrag til bog/antologi
  • 1 Tidsskriftartikel
5 Downloads (Pure)

Impact of the Case Temperature on the Reliability of SiC MOSFETs Under Repetitive Short Circuit Tests

Du, H., Reigosa, P. D., Iannuzzo, F. & Ceccarelli, L., mar. 2019, Proceedings of 2019 IEEE Annual Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC 2019). IEEE Press, s. 332-337 6 s.

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceartikel i proceedingForskningpeer review

Åben adgang
Fil
Short circuit currents
Temperature
Bias voltage
Leakage currents
Wire

Implications of short-circuit events on power cycling of 1.2-kV/20-A SiC MOSFET power modules

Du, H., Ceccarelli, L., Iannuzzo, F. & Reigosa, P. D., 2019, (Accepteret/In press) I : Microelectronics Reliability.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

Åben adgang
Fil
short circuits
Short circuit currents
field effect transistors
cycles
degradation
1 Citation (Scopus)
14 Downloads (Pure)

Mission-Profile-Based Lifetime Prediction for a SiC mosfet Power Module Using a Multi-Step Condition-Mapping Simulation Strategy

Ceccarelli, L., Kotecha, R. M., Bahman, A. S., Iannuzzo, F. & Mantooth, H. A., okt. 2019, I : IEEE Transactions on Power Electronics. 34, 10, s. 9698-9708 11 s., 8616890.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
Topology
Power converters
Reliability analysis
Specifications
Finite element method
1 Citation (Scopus)

An Improved Physics-based LTSpice Compact Electro-Thermal Model for a SiC Power MOSFET with Experimental Validation

Hossain, M. M., Ceccarelli, L., Rashid, A. U., Kotecha, R. & Mantooth, H. A., okt. 2018, Proceedings of IECON 2018 - 44th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society. IEEE, s. 1011-1016 6 s. (Proceedings of the Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society).

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceartikel i proceedingForskningpeer review

Physics
Computer hardware description languages
Parameter extraction
Switches
Topology
1 Citation (Scopus)
8 Downloads (Pure)

Effect of short-circuit stress on the degradation of the SiO2 dielectric in SiC power MOSFETs

Reigosa, P. D., Iannuzzo, F. & Ceccarelli, L., sep. 2018, I : Microelectronics Reliability. 88-90, s. 577-583 7 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

short circuits
Leakage currents
Short circuit currents
field effect transistors
degradation

Priser

Best Presenter

Lorenzo Ceccarelli (Modtager), 5 nov. 2018

Pris: Konferencepriser

Aktiviteter 2017 2018

  • 3 Konferenceoplæg
  • 1 Organisering af eller deltagelse i konference
  • 1 Gæsteophold ved andre institutioner

Fast Electro-thermal Simulation Strategy for SiC MOSFETs Based on Power Loss Mapping

Lorenzo Ceccarelli (Foredragsholder)
5 nov. 2018

Aktivitet: Foredrag og mundtlige bidragKonferenceoplæg

29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis

Lorenzo Ceccarelli (Deltager)
1 okt. 20185 okt. 2018

Aktivitet: Deltagelse i faglig begivenhedOrganisering af eller deltagelse i konference

University of Arkansas

Lorenzo Ceccarelli (Gæsteforsker)
15 jan. 201815 jun. 2018

Aktivitet: Gæsteophold ved andre institutioner

43rd Annual Conference of IEEE Industrial Electronics Society (IECON 2017)

Lorenzo Ceccarelli (Foredragsholder)
29 okt. 20171 nov. 2017

Aktivitet: Foredrag og mundtlige bidragKonferenceoplæg

28th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)

Lorenzo Ceccarelli (Foredragsholder)
25 sep. 201728 sep. 2017

Aktivitet: Foredrag og mundtlige bidragKonferenceoplæg