• Pontoppidanstræde 101, 72

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

20162021
Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Personlig profil

Uddannelse (Akademiske kvalifikationer)

Electrical Engineering, MSc, University of Cassino and Southern Lazio

20102015

Fingeraftryk Fingeraftryk er baseret på at anvende teksten fra personernes videnskabelige dokumenter til at skabe et indeks med vægtede ord, som definerer de vigtigste emner fra hver enkelt forsker.

  • 8 Lignende profiler
Short circuit currents Teknik og materialevidenskab
short circuits Fysik og astronomi
field effect transistors Fysik og astronomi
Leakage currents Teknik og materialevidenskab
Power electronics Teknik og materialevidenskab
Degradation Teknik og materialevidenskab
Topology Teknik og materialevidenskab
degradation Fysik og astronomi

Netværk Klik på punkterne for at se detaljerne.

Projekter 2017 2021

Publikationer 2016 2019

  • 7 Konferenceartikel i proceeding
  • 4 Konferenceartikel i tidsskrift
  • 1 Bidrag til bog/antologi
  • 1 Tidsskriftartikel

Mission-Profile-Based Lifetime Prediction for a SiC MOSFET Power Module using a Multi-Step Condition-Mapping Simulation Strategy

Ceccarelli, L., Kotecha, R., Bahman, A. S., Iannuzzo, F. & Mantooth, A., 15 jan. 2019, (Accepteret/In press) I : I E E E Transactions on Power Electronics.

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

Åben adgang
Fil
Topology
Power converters
Reliability analysis
Specifications
Finite element method

An Improved Physics-based LTSpice Compact Electro-Thermal Model for a SiC Power MOSFET with Experimental Validation

Hossain, M. M., Ceccarelli, L., Rashid, A. U., Kotecha, R. & Mantooth, H. A., okt. 2018, Proceedings of IECON 2018 - 44th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society. IEEE, s. 1011-1016 6 s. (I E E E Industrial Electronics Society. Annual Conference. Proceedings).

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceartikel i proceedingForskningpeer review

Physics
Computer hardware description languages
Parameter extraction
Switches
Topology

Effect of short-circuit stress on the degradation of the SiO2 dielectric in SiC power MOSFETs

Reigosa, P. D., Iannuzzo, F. & Ceccarelli, L., sep. 2018, I : Microelectronics Reliability. 88-90, s. 577-583 7 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

short circuits
Leakage currents
Short circuit currents
field effect transistors
degradation
6 Downloads (Pure)

Failure analysis of a degraded 1.2 kV SiC MOSFET after short circuit at high temperature

Reigosa, P. D., Iannuzzo, F. & Ceccarelli, L., jul. 2018, Proceedings of the IPFA 2018 - 25th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IEEE Press, Bind 2018-July. s. 1-5 5 s. 8452575

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceartikel i proceedingForskningpeer review

Åben adgang
Fil
Short circuit currents
Failure analysis
Electric potential
Temperature
Focused ion beams
9 Downloads (Pure)

Fast Electro-thermal Simulation Strategy for SiC MOSFETs Based on Power Loss Mapping

Ceccarelli, L., Kotecha, R., Iannuzzo, F. & Mantooth, A., nov. 2018, Proceedings of the 2018 IEEE International Power Electronics and Application Conference and Exposition, PEAC 2018. IEEE Press, s. 1-6 6 s. 8590288

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceartikel i proceedingForskningpeer review

Åben adgang
Fil
Circuit simulation
Power electronics
Topology
Finite element method
Hot Temperature

Priser

Best Presenter

Lorenzo Ceccarelli (Modtager), 5 nov. 2018

Pris: Priser, stipendier, udnævnelser

Aktiviteter 2017 2018

  • 3 Konferenceoplæg
  • 1 Organisering af eller deltagelse i konference
  • 1 Gæsteophold ved andre institutioner

28th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)

Lorenzo Ceccarelli (Foredragsholder)
25 sep. 201728 sep. 2017

Aktivitet: Foredrag og mundtlige bidragKonferenceoplæg

29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis

Lorenzo Ceccarelli (Deltager)
1 okt. 20185 okt. 2018

Aktivitet: Deltagelse i faglig begivenhedOrganisering af eller deltagelse i konference

43rd Annual Conference of IEEE Industrial Electronics Society (IECON 2017)

Lorenzo Ceccarelli (Foredragsholder)
29 okt. 20171 nov. 2017

Aktivitet: Foredrag og mundtlige bidragKonferenceoplæg

Fast Electro-thermal Simulation Strategy for SiC MOSFETs Based on Power Loss Mapping

Lorenzo Ceccarelli (Foredragsholder)
5 nov. 2018

Aktivitet: Foredrag og mundtlige bidragKonferenceoplæg

University of Arkansas

Lorenzo Ceccarelli (Gæsteforsker)
15 jan. 201815 jun. 2018

Aktivitet: Gæsteophold ved andre institutioner