Foto af He Du
  • Pontoppidanstræde 105, 3119

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

20182019
Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Fingerprint Fingerprint er automatisk genererede koncepter, som stammer fra personprofilernes indhold. Det opdateres løbende med nye registreringer.

  • 5 Lignende profiler
Short circuit currents Teknik og materialevidenskab
short circuits Fysik og astronomi
field effect transistors Fysik og astronomi
static characteristics Fysik og astronomi
degradation Fysik og astronomi
Degradation Teknik og materialevidenskab
Leakage currents Teknik og materialevidenskab
leakage Fysik og astronomi

Publikationer 2018 2019

  • 1 Konferenceartikel i proceeding
  • 1 Konferenceartikel i tidsskrift
1 Downloads (Pure)

Impact of the Case Temperature on the Reliability of SiC MOSFETs Under Repetitive Short Circuit Tests

Du, H., Reigosa, P. D., Iannuzzo, F. & Ceccarelli, L., mar. 2019, Proceedings of 2019 IEEE Annual Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC 2019). IEEE Press, s. 332-337 6 s.

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceartikel i proceedingForskningpeer review

Åben adgang
Fil
Short circuit currents
Temperature
Bias voltage
Leakage currents
Wire
1 Citation (Scopus)
18 Downloads (Pure)

Investigation on the degradation indicators of short-circuit tests in 1.2 kV SiC MOSFET power modules

Du, H., Reigosa, P. D., Iannuzzo, F. & Ceccarelli, L., 1 sep. 2018, I : Microelectronics Reliability. 88-90, s. 661-665 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

Åben adgang
Fil
short circuits
Short circuit currents
field effect transistors
static characteristics
degradation