20182018
Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Fingeraftryk Fingeraftryk er baseret på at anvende teksten fra personernes videnskabelige dokumenter til at skabe et indeks med vægtede ord, som definerer de vigtigste emner fra hver enkelt forsker.

  • 2 Lignende profiler
short circuits Fysik og astronomi
Short circuit currents Kemiske forbindelser
field effect transistors Fysik og astronomi
static characteristics Fysik og astronomi
degradation Fysik og astronomi
Degradation Kemiske forbindelser
Leakage currents Kemiske forbindelser
leakage Fysik og astronomi

Publikationer 2018 2018

  • 1 Konferenceartikel i tidsskrift
14 Downloads (Pure)

Investigation on the degradation indicators of short-circuit tests in 1.2 kV SiC MOSFET power modules

Du, H., Reigosa, P. D., Iannuzzo, F. & Ceccarelli, L., 1 sep. 2018, I : Microelectronics Reliability. 88-90, s. 661-665 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

short circuits
Short circuit currents
field effect transistors
static characteristics
degradation