Foto af He Du
  • Pontoppidanstræde 105, 3119

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

20182018
Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Publikationer 2018 2018

  • 1 Konferenceartikel i tidsskrift
2018
14 Downloads (Pure)

Investigation on the degradation indicators of short-circuit tests in 1.2 kV SiC MOSFET power modules

Du, H., Reigosa, P. D., Iannuzzo, F. & Ceccarelli, L., 1 sep. 2018, I : Microelectronics Reliability. 88-90, s. 661-665 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

short circuits
Short circuit currents
field effect transistors
static characteristics
degradation