Foto af He Du
  • Pontoppidanstræde 101, 2-053

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

20182019
Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Publikationer 2018 2019

  • 1 Konferenceartikel i proceeding
  • 1 Konferenceartikel i tidsskrift
Filter
Konferenceartikel i proceeding
2019
5 Downloads (Pure)

Impact of the Case Temperature on the Reliability of SiC MOSFETs Under Repetitive Short Circuit Tests

Du, H., Reigosa, P. D., Iannuzzo, F. & Ceccarelli, L., mar. 2019, Proceedings of 2019 IEEE Annual Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC 2019). IEEE Press, s. 332-337 6 s.

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceartikel i proceedingForskningpeer review

Åben adgang
Fil
Short circuit currents
Temperature
Bias voltage
Leakage currents
Wire