Foto af He Du
  • Pontoppidanstræde 101, 2-053

    9220 Aalborg Ø

    Danmark

20182019
Hvis du har foretaget ændringer i Pure, vil de snart blive vist her.

Publikationer 2018 2019

  • 2 Konferenceartikel i tidsskrift
  • 1 Konferenceartikel i proceeding
Filter
Konferenceartikel i tidsskrift
2019

Implications of short-circuit events on power cycling of 1.2-kV/20-A SiC MOSFET power modules

Du, H., Ceccarelli, L., Iannuzzo, F. & Reigosa, P. D., 2019, (Accepteret/In press) I : Microelectronics Reliability.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

Åben adgang
Fil
short circuits
Short circuit currents
field effect transistors
cycles
degradation
2018
1 Citation (Scopus)
20 Downloads (Pure)

Investigation on the degradation indicators of short-circuit tests in 1.2 kV SiC MOSFET power modules

Du, H., Reigosa, P. D., Iannuzzo, F. & Ceccarelli, L., 1 sep. 2018, I : Microelectronics Reliability. 88-90, s. 661-665 5 s.

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

short circuits
Short circuit currents
field effect transistors
static characteristics
degradation