Projekter pr. år
Fingerprint
Fingerprint er automatisk genererede koncepter, som stammer fra personprofilernes indhold. Det opdateres løbende med nye registreringer.
- 1 Lignende profiler
Samarbejde i de sidste fem år
Klik på punkterne for at se detaljerne.
-
Modern Protection and Fault Location method for multi-terminals VSC-HVDC Transmission Lines
Farkhani, J. S., Chen, Z., Bak, C. L. & Ma, K.
01/12/2021 → 30/11/2024
Projekter: Projekt › Ph.d.-projekt
-
Advanced Protection Technologies of a Cable Dominated Network with large Scale Power Electronics
01/02/2018 → 31/01/2022
Projekter: Projekt › Ph.d.-projekt
Publikationer
-
A Fast Fault Detection for Multi-Terminal VSC HVDC Transmission Lines
Farkhani, J. S., Niaki, S. H. A., Ma, K., Bak, C. L. & Chen, Z., 15 mar. 2023, I: INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING RESEARCH . s. 24-29 6 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
-
Improved Zone 1 Top-line Tilting Scheme for Polygonal Distance Protection in the Outgoing Line of Type-4 Wind Parks
Ma, K., Høidalen, H. K., Chen, Z. & Bak, C. L., 1 jan. 2023, I: CSEE Journal of Power and Energy Systems. 9, 1, s. 172-184 13 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
1 Citationer (Scopus) -
Protection of Multi-Terminal VSC HVDC Hybrid Transmission Line
Farkhani, J. S., Celik, O., Ma, K., Chen, Z. & Bak, C. L., 8 sep. 2023, 2023 25th European Conference on Power Electronics and Applications, EPE 2023 ECCE Europe. s. 1-6 6 s.Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceeding › Konferenceartikel i proceeding › Forskning › peer review
-
VSC MT-HVDC Fault Identification Based on the VMD-TEO and Artificial Neural Network
Farkhani, J. S., Celik, O., Ma, K., Bak, C. L. & Chen, Z., 25 aug. 2023, s. 1-6. 6 s.Publikation: Konferencebidrag uden forlag/tidsskrift › Konferenceabstrakt til konference › Forskning › peer review
-
A Contribution to the Development of High-Voltage dc Circuit Breaker Technologies: A Review of New Considerations
Liu, Z., Mirhosseini, S., Liu, L., Popov, M., Ma, K., Hu, W., Jamali, S., Palensky, P. & Chen, Z., 2022, I: IEEE Industrial Electronics Magazine. 16, 1, s. 42-59 18 s.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
9 Citationer (Scopus)