Projekter pr. år
Fingerprint
Fingerprint er automatisk genererede koncepter, som stammer fra personprofilernes indhold. Det opdateres løbende med nye registreringer.
- 9 Lignende profiler
Netværk
Klik på punkterne for at se detaljerne.
Projekter
-
Non-invasive Condition Monitoring of Traction Inverters
01/08/2020 → 01/08/2022
Projekter: Projekt › Forskning
-
Light-AI for Cognitive Power Electronics
Wang, H., Yang, B., Zhao, S. & Zhang, Y.
01/08/2019 → 31/07/2023
Projekter: Projekt › Forskning
-
UTRC: Prognostics and Health Management on Power Electronics
Wang, H., Zhang, Y., Zhao, S. & Østergaard, J.
United Technologies Research Centre Ireland Ltd.
01/10/2019 → 28/02/2020
Projekter: Projekt › Forskning
Publikationer
-
A Composite Failure Precursor for Condition Monitoring and Remaining Useful Life Prediction of Discrete Power Devices
Zhao, S., Chen, S., Yang, F., Ugur, E., Akin, B. & Wang, H., jan. 2021, I: IEEE Transactions on Industrial Informatics. 17, 1, s. 688-698 11 s., 9082880.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
3 Citationer (Scopus) -
A Generalized Remaining Useful Life Prediction Method for Complex Systems Based on Composite Health Indicator
Wen, P., Zhao, S., Chen, S. & Li, Y., 2021, I: Reliability Engineering & System Safety. 205, 107241.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
-
An overview of artificial intelligence applications for power electronics
Zhao, S., Blaabjerg, F. & Wang, H., apr. 2021, I: IEEE Transactions on Power Electronics . 36, 4, s. 4633-4658 26 s., 9200511.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Review (oversigtsartikel) › peer review
Åben adgang -
A Digital Twin based Estimation Method for Health Indicators of DC-DC Converters
peng, Y., Zhao, S. & Wang, H., jul. 2020, (Accepteret/In press) I: I E E E Transactions on Power Electronics. 36, 2, s. 2105-2118 14 s., 9141430.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Åben adgangFil1 Citationer (Scopus)31 Downloads (Pure) -
Degradation Modeling for Reliability Estimation of DC Film Capacitors Subject to Humidity Acceleration
Zhao, S., Chen, S. & Wang, H., 2019, I: Microelectronics Reliability.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
1 Citationer (Scopus)