A Bayesian approach to crack detection in electrically conducting media

Kim Emil Andersen, Stephen Brooks, Martin Bøgsted Hansen

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

14 Citationer (Scopus)
OriginalsprogEngelsk
TidsskriftInverse Problems
Vol/bind17
Sider (fra-til)121-136
ISSN0266-5611
StatusUdgivet - 2001

Citationsformater