A survey of SiC power MOSFETs short-circuit robustness and failure mode analysis

L. Ceccarelli^*, P. D. Reigosa, F. Iannuzzo, F. Blaabjerg

^*Kontaktforfatter

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel i tidsskrift › Forskning › peer review

79 Citationer (Scopus)

728 Downloads (Pure)

Filter

28th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)
Lorenzo Ceccarelli (Foredragsholder)
25 sep. 2017 → 28 sep. 2017
Aktivitet: Foredrag og mundtlige bidrag › Konferenceoplæg

Aktiviteter