Adaptive and robust prediction for the remaining useful life of electrolytic capacitors

Qi Qin, Shuai Zhao*, Shaowei Chen, Dengshan Huang, Jian Liang

*Kontaktforfatter

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

12 Citationer (Scopus)
OriginalsprogEngelsk
TidsskriftMicroelectronics Reliability
Vol/bind87
Sider (fra-til)64-74
Antal sider11
ISSN0026-2714
DOI
StatusUdgivet - aug. 2018
Udgivet eksterntJa

Bibliografisk note

Publisher Copyright:
© 2018 Elsevier Ltd

Fingeraftryk

Dyk ned i forskningsemnerne om 'Adaptive and robust prediction for the remaining useful life of electrolytic capacitors'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.

Citationsformater