An Examination System for Examination of a Specimen; Sub-units and Units therefore, a Sensor and a Microscope

P. Thomsen (Opfinder), T. Nikolajsen (Opfinder), Sergey Bozhevolnyi (Opfinder), M.H. Sørensen (Opfinder)

    Publikation: Patent

    OriginalsprogEngelsk
    PatentnummerWO/2005/052557
    Land/OmrådeDanmark
    StatusUdgivet - 2005

    AUB Link

    Søg efter materialet i Aalborg Universitetsbiblioteks søgemaskine

    Citationsformater