Annealing of Radiation Defects in Dual Implanted Silicon

I.P. Kozlov, Vladimir Odzhaev, Vladimir Popok, Vladimir Hnatowicz

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

4 Citationer (Scopus)
OriginalsprogEngelsk
TidsskriftSemiconductor Science and Technology
Vol/bind11
Udgave nummer5
Sider (fra-til)722-725
Antal sider4
ISSN0268-1242
StatusUdgivet - 1996
Udgivet eksterntJa

Citationsformater