Originalsprog | Engelsk |
---|---|
Tidsskrift | Semiconductor Science and Technology |
Vol/bind | 11 |
Udgave nummer | 5 |
Sider (fra-til) | 722-725 |
Antal sider | 4 |
ISSN | 0268-1242 |
Status | Udgivet - 1996 |
Udgivet eksternt | Ja |
Annealing of Radiation Defects in Dual Implanted Silicon
I.P. Kozlov, Vladimir Odzhaev, Vladimir Popok, Vladimir Hnatowicz
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
4
Citationer
(Scopus)