Characterization of silicon microelectrodes from the EU VSAMUEL project

Kenichi Yoshida, Winnie Jensen, P. Norlin, M. Kindlundh, U. G. Hofmann

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceabstrakt i proceedingForskning

6 Citationer (Scopus)
OriginalsprogEngelsk
TitelProc. 35. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Biomedizinische Technik e.V. (DGBMT), August 2001, Bochum, Germany
Antal sider2
Publikationsdato2001
StatusUdgivet - 2001

Citer dette

Yoshida, K., Jensen, W., Norlin, P., Kindlundh, M., & Hofmann, U. G. (2001). Characterization of silicon microelectrodes from the EU VSAMUEL project. I Proc. 35. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Biomedizinische Technik e.V. (DGBMT), August 2001, Bochum, Germany
Yoshida, Kenichi ; Jensen, Winnie ; Norlin, P. ; Kindlundh, M. ; Hofmann, U. G. / Characterization of silicon microelectrodes from the EU VSAMUEL project. Proc. 35. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Biomedizinische Technik e.V. (DGBMT), August 2001, Bochum, Germany. 2001.
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Characterization of silicon microelectrodes from the EU VSAMUEL project. / Yoshida, Kenichi; Jensen, Winnie; Norlin, P.; Kindlundh, M.; Hofmann, U. G.

Proc. 35. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Biomedizinische Technik e.V. (DGBMT), August 2001, Bochum, Germany. 2001.

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceabstrakt i proceedingForskning

TY - ABST

T1 - Characterization of silicon microelectrodes from the EU VSAMUEL project

AU - Yoshida, Kenichi

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AU - Hofmann, U. G.

PY - 2001

Y1 - 2001

M3 - Conference abstract in proceeding

BT - Proc. 35. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Biomedizinische Technik e.V. (DGBMT), August 2001, Bochum, Germany

ER -

Yoshida K, Jensen W, Norlin P, Kindlundh M, Hofmann UG. Characterization of silicon microelectrodes from the EU VSAMUEL project. I Proc. 35. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Biomedizinische Technik e.V. (DGBMT), August 2001, Bochum, Germany. 2001