De-Embedding of On-Wafer Noise Measurements

Christian Rye Iversen

Publikation: Bog/antologi/afhandling/rapportBogForskning

OriginalsprogEngelsk
UdgivelsesstedAalborg
ForlagAalborg Universitetsforlag
StatusUdgivet - 2000
NavnAalborg Universitetscenter. Institut for Elektroniske Systemer. Afdeling for Kommunikationsteknologi. Rapport
NummerR2000-1005
ISSN0908-1224

Citationsformater