De-Embedding of On-Wafer Noise Measurements

Christian Rye Iversen

Publikation: Bog/antologi/afhandling/rapportBogForskning

OriginalsprogEngelsk
Udgivelses stedAalborg
ForlagAalborg Universitetsforlag
StatusUdgivet - 2000
NavnAalborg Universitetscenter. Institut for Elektroniske Systemer. Afdeling for Kommunikationsteknologi. Rapport
NummerR2000-1005
ISSN0908-1224

Citationsformater

Iversen, C. R. (2000). De-Embedding of On-Wafer Noise Measurements. Aalborg Universitetsforlag. Aalborg Universitetscenter. Institut for Elektroniske Systemer. Afdeling for Kommunikationsteknologi. Rapport, Nr. R2000-1005