Fingeraftryk
Dyk ned i forskningsemnerne om 'Effect of short-circuit stress on the degradation of the SiO2 dielectric in SiC power MOSFETs'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.- Sorter
- Vægt
- Alfabetisk
Effect of short-circuit stress on the degradation of the SiO2 dielectric in SiC power MOSFETs
Paula Diaz Reigosa*, Francesco Iannuzzo, Lorenzo Ceccarelli
*Kontaktforfatter
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel i tidsskrift › Forskning › peer review
40
Citationer
(Scopus)
321
Downloads
(Pure)