Effect of short-circuit stress on the degradation of the SiO₂ dielectric in SiC power MOSFETs

Paula Diaz Reigosa^*, Francesco Iannuzzo, Lorenzo Ceccarelli

^*Kontaktforfatter

Det Ingeniør- og Naturvidenskabelige Fakultet

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel i tidsskrift › Forskning › peer review

40 Citationer (Scopus)

322 Downloads (Pure)

1 resultater

Afsluttet
Center Of Reliable Power Electronics (CORPE)
Blaabjerg, F., Munk-Nielsen, S., Pedersen, K. & Popok, V.
01/04/2011 → 31/12/2016
Projekter: Projekt › Forskning