Electrical stress suffered by medium voltage medium frequency transformer

Changjiang Zheng, Qian Wang*, Huai Wang, Zhan Shen, Claus Leth Bak

*Kontaktforfatter

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceartikel i proceedingForskningpeer review

OriginalsprogEngelsk
Titel2021 IEEE Electrical Insulation Conference (EIC)
Publikationsdato29 nov. 2021
StatusUdgivet - 29 nov. 2021

Citationsformater