Impact of Repetitive Short-Circuit Tests on the Normal Operation of SiC MOSFETs Considering Case Temperature Influence

He Du^*, Paula Diaz Reigosa, Lorenzo Ceccarelli, Francesco Iannuzzo

^*Kontaktforfatter

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review

34 Citationer (Scopus)

291 Downloads (Pure)

1 Afsluttet

1 resultater

Filter

Afsluttet
Center Of Reliable Power Electronics (CORPE)
Blaabjerg, F., Munk-Nielsen, S., Pedersen, K. & Popok, V.
01/04/2011 → 31/12/2016
Projekter: Projekt › Forskning