Investigation on the degradation indicators of short-circuit tests in 1.2 kV SiC MOSFET power modules

He Du, Paula Diaz Reigosa, Francesco Iannuzzo, Lorenzo Ceccarelli

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel i tidsskrift › Forskning › peer review

12 Citationer (Scopus)

227 Downloads (Pure)

1 Organisering af eller deltagelse i konference

1 resultater
- Titel
- Startdato(stigende)

29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
Lorenzo Ceccarelli (Deltager)
1 okt. 2018 → 5 okt. 2018
Aktivitet: Deltagelse i faglig begivenhed › Organisering af eller deltagelse i konference