Fingeraftryk
Dyk ned i forskningsemnerne om 'Investigation on the degradation indicators of short-circuit tests in 1.2 kV SiC MOSFET power modules'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.- Sorter
- Vægt
- Alfabetisk
Investigation on the degradation indicators of short-circuit tests in 1.2 kV SiC MOSFET power modules
He Du, Paula Diaz Reigosa, Francesco Iannuzzo, Lorenzo Ceccarelli
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel i tidsskrift › Forskning › peer review
10
Citationer
(Scopus)
185
Downloads
(Pure)