Investigation on the degradation indicators of short-circuit tests in 1.2 kV SiC MOSFET power modules

He Du, Paula Diaz Reigosa, Francesco Iannuzzo, Lorenzo Ceccarelli

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel i tidsskrift › Forskning › peer review

10 Citationer (Scopus)
185 Downloads (Pure)
  • 10 Citationer
  • 1 Ph.d.-afhandling
Filter
Ph.d.-afhandling

Søgeresultater