On-line solder layer degradation measurement for SiC-MOSFET modules under accelerated power cycling condition

Haoze Luo^*, Paula Diaz Reigosa, Francesco Iannuzzo, Frede Blaabjerg

^*Kontaktforfatter

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel i tidsskrift › Forskning › peer review

12 Citationer (Scopus)

185 Downloads (Pure)

Filter

Afsluttet
Center Of Reliable Power Electronics (CORPE)
Blaabjerg, F., Munk-Nielsen, S., Pedersen, K. & Popok, V.
01/04/2011 → 31/12/2016
Projekter: Projekt › Forskning

Projekter