Sharpness, sharpness related attributes, and their physical correlates

M. Nijenhuis, R. Hamberg, C. Teunissen, S. Bech, H. Looren De Jong, P. Houben, S. K. Pramanik

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

8 Citationer (Scopus)
OriginalsprogEngelsk
TidsskriftProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Vol/bind3025
Sider (fra-til)173-184
Antal sider12
ISSN0277-786X
DOI
StatusUdgivet - 4 apr. 1997
Udgivet eksterntJa
BegivenhedVery High Resolution and Quality Imaging II 1997 - San Jose, USA
Varighed: 8 feb. 199714 feb. 1997

Konference

KonferenceVery High Resolution and Quality Imaging II 1997
Land/OmrådeUSA
BySan Jose
Periode08/02/199714/02/1997

Fingeraftryk

Dyk ned i forskningsemnerne om 'Sharpness, sharpness related attributes, and their physical correlates'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.

Citationsformater