Thermal instability during short circuit of normally-off AlGaN/GaN HFETs

C. Abbate, Francesco Iannuzzo*, G. Busatto

*Kontaktforfatter

Publikation: Bidrag til tidsskriftKonferenceartikel i tidsskriftForskningpeer review

24 Citationer (Scopus)

Fingeraftryk

Dyk ned i forskningsemnerne om 'Thermal instability during short circuit of normally-off AlGaN/GaN HFETs'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.

Keyphrases

Earth and Planetary Sciences

Engineering