X-parameter measurement on a GaN HEMT device: Complexity reduction study of load-pull characterization test setup

Yelin Wang*

*Kontaktforfatter

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelpeer review

2 Citationer (Scopus)
OriginalsprogEngelsk
Artikelnummer024004
TidsskriftJournal of Semiconductors
Vol/bind36
Udgave nummer2
Antal sider10
ISSN1674-4926
DOI
StatusUdgivet - 1 feb. 2015

Fingeraftryk

Dyk ned i forskningsemnerne om 'X-parameter measurement on a GaN HEMT device: Complexity reduction study of load-pull characterization test setup'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.

Citationsformater