Fingeraftryk
Dyk ned i forskningsemnerne om 'X-parameter measurement on a GaN HEMT device: Complexity reduction study of load-pull characterization test setup'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.- Sorter
- Vægt
- Alfabetisk
X-parameter measurement on a GaN HEMT device: Complexity reduction study of load-pull characterization test setup
Yelin Wang*
*Kontaktforfatter
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
3
Citationer
(Scopus)