Fjern-felts anden-harmonisk mikroskopi / Second Harmonic Far-Field Microscopy

  • Vohnsen, Brian, (Project Participant)
  • Pedersen, Kjeld (Project Participant)
  • Bozhevolnyi, Sergey, (Project Participant)

    Description

    Ved at skanne prøver under en fokuseret laserstråle kan den rumlige fordeling af optiske ulineariteter undersøges med en opløsning, som er sammenlignelig med lysets bølgelængde. Sammenlignet med lineær optisk mikroskopi giver den ulineære mikroskopi helt nye muligheder for kontrast på grund af de ændrede udvalgsregler ved højere ordens processer. Fx kan den lokale symmetri af domænestrukturer bestemmes og den rumlige fordeling af inducerede ulineariteter i aktive optiske komponenter kan undersøges. I samarbejde med Research Center COM på DTU er der udført en række undersøgelser af aktive bølgelederkomponenter fremstillet ved elektrisk poling af tynde oxidlag på silicium. (Kjeld Pedersen, Sergey I. Bozhevolnyi, Brian Vohnsen, Jonas Beermann)
    StatusActive
    Effective start/end date19/05/2010 → …