Investigating SiC MOSFET body diode's light emission as temperature-sensitive electrical parameter

Lorenzo Ceccarelli, Haoze Luo, Francesco Iannuzzo

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel i tidsskrift › Forskning › peer review

16 Citationer (Scopus)

235 Downloads (Pure)

1 resultater
- Titel
- Startdato(stigende)

29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
Lorenzo Ceccarelli (Deltager)
1 okt. 2018 → 5 okt. 2018
Aktivitet: Deltagelse i faglig begivenhed › Organisering af eller deltagelse i konference