A Temperature-dependent Thermal Model of Silicon Carbide MOSFET Module for Long-term Reliability Assessment

Mengxing Chen, Huai Wang, Frede Blaabjerg, Xiongfei Wang, Donghua Pan

Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceedingKonferenceartikel i proceedingForskningpeer review

8 Citationer (Scopus)
1 Downloads (Pure)
Filter
Afsluttet

Søgeresultater